講演番号311

　近年，新規材料開発分野の発展に伴い，粉末法Ｘ線回折は重要である．結晶の同定では，粉末法Ｘ線回折の結果から得られる回折角・結晶面間隔・ピーク強度(相対強度)などのデータをJCPDSカードと比較する．その結果，格子定数・反射指数を得るが，JCPDSカードに記載されているピーク数には限りがあるため，全ピークの反射指数を得るのは難しい．また，新規材料開発の際には，JCPDSカードに目的物質の結晶データが無い場合も考えられ，反射指数がわからないこともある．本研究では，粉末法Ｘ線回折で得られる回折角および結晶面間隔から，各ピークの反射指数を求めるソフトウェアを開発した．

　指数付けを行うには，Ｘ線回折より検出される結晶面間隔が重要となる．本ソフトウェアでは，この結晶面間隔の実測値と計算値を比較し，試行法により指数付けを行う．その結果をFig.1(a)に示す．この結果には立方晶系における(1 1 0)面や(1 0 1)面などの同じ反射指数が重複して含まれるため理解が困難である．そこで，これら重複する反射指数をいくつかの条件により削除する．その結果，Fig.1(b)に示すような指数付け結果を得た．
　結晶面間隔の実測値と計算値を比較する際，両者の間に誤差が発生する．この誤差は結晶により様々であり，また同じ結晶でもピークによって異なるため，１つに決められない．そこで，誤差はあらかじめ用意された10段階の設定から，ユーザーが選択する方式を採用した．また，Ｘ線回折の際，特性Ｘ線にＫα線を，対陰極物質に銅を用いることを前提としてプログラムしたため，Ｘ線波長は1.5406Åに設定した．

(a)重複反射指数削除前

(b)重複反射指数削除後

演　題	粉末法Ｘ線データの指数付け
発表者（所属）	○梅下友則，海老原朋介，野口文雄，小林秀彦（埼玉大学工学部）
連絡先	〒338-8570 埼玉県浦和市下大久保255 埼玉大学工学部 TEL/FAX 048-858-3536 W-mail:
キーワード	X-ray Diffraction，Indexing
開発意図適用分野期待効果特徴など	粉末法Ｘ線回折において，回折角・結晶面間隔・ピーク強度などのデータは容易に得られる．しかし，反射指数はJCPDSカードを用いても，全ピークについて得るのは難しい．本研究では，実験データから各ピークの反射指数を算出するソフトウェアを開発した．
環　境	適応機種名	PC98シリーズ，DOS/V
	O S 名	Windows98/NT/2000
	ソース言語	C，C++
	周辺機器	特になし
流通形態	化学ソフトウェア学会の無償利用ソフトとする独自に配布するソフトハウス，出版社等から市販ソフトの頒布は行わない *その他：未定*	具体的方法